Астрономия и микроскопия

Форум сайта "Два Стрельца"
Текущее время: 28 мар 2024, 11:57

Часовой пояс: UTC + 3 часа




Начать новую тему Ответить на тему  [ Сообщений: 90 ]  На страницу 1, 2, 3, 4, 5, 6  След.
Автор Сообщение
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:20 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Всем доброго вечера, совершенно неожиданно обнаружил что на этом форуме про Хоффмановский контраст есть всего три коротеньких сообщения. А метод этот очень полезный, так как позволяет повысить контрастность неконтрастных объектов, например живых клеток. Но каковы физические принципы этого метода?


Поиски в русскоязычном сегменте интернета не оставили у меня какого либо хорошего впечатления. Понять по той инфе что есть, как работает этот метод я не смог. Уж извините если что не так :lol: :lol: :lol: . Поэтому не мудрствуя лукаво я решил так сказать просто перевести ключевую статью разработчика этого метода, которую здесь и выкладываю по частям, а вдруг кому пригодится.

________________
Leitz Laborlux S
Olympus BX51

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1


Последний раз редактировалось Алексей Лк 04 июн 2021, 21:31, всего редактировалось 1 раз.

Вернуться к началу
 Профиль  
 

СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:22 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Часть 1

Модуляционно-контрастный микроскоп: принципы и характеристики

by ROBERT HOFFMAN, Adelphi University, Garden City, New York 11530, U.S.A. (Mud address: 17 Copper Beech Place, Merrick, New York 11566, U.S.A.)

Journal of Microscopy, Vol. 110, Pt 3, August 1977, pp. 205-222. paper accepted 5 July 1977

https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1977.tb00033.x

АБСТРАКТ.

Микроскоп с модуляционным контрастом создает изображение с высокой степенью контрастности и разрешения. Конечное изображение имеет трехмерный вид, в котором округлый объект кажется темным с одной стороны, светлым с другой, с серым пространством между ними на сером фоне. К характеристикам системы модуляционного контраста относятся оптическое сечение, направленность света, высокое разрешение и контроль контрастности и когерентности. Светлопольный микроскоп превращается в микроскоп с модуляционным контрастом путем добавления в объектив модулятора - специального амплитудного фильтра. Перед конденсором размещена щелевая апертура, часть которой содержит поляризатор (частично поляризована). Ниже расположен вращающийся поляризатор. Модулятор обрабатывает свет от противоположных градиентов противоположно, то есть ярче для одного и темнее для другого; тем самым сохраняя знак. Теория дифракции была расширена, чтобы показать, что интенсивность градиентного изображения является интенсивностью нулевого порядка и при модификации модулятором создает высококонтрастное изображение.
Модулирующий контрастный микроскоп прост и удобен в настройке. Он используется в системах отраженного и проходящего света, с пластиковыми и стеклянными поверхностями, а также в сочетании с флуоресцентными системами и методами поляризации. Практически нет предела по типу образца, который можно исследовать этим методом.

ВВЕДЕНИЕ

Модулирующий контрастный микроскоп позволяет рассматривать прозрачные, неокрашенные и живые клетки с высоким контрастом. Эта система преобразует информацию о фазовом градиенте в вариации интенсивности изображения. Фазовые градиенты образуют округлые области прозрачных объектов. По интенсивности изображения противоположные градиенты противоположны. Один градиент темнее, а противоположный градиент светлее, чем среднее значение серого фона. Эта форма оптического затемнения приводит к появлению трехмерного изображения. В определенном диапазоне значений интенсивность изображения является функцией первой производной разности оптических путей прозрачного фазового объекта или геометрического контура непрозрачного объекта.

ХАРАКТЕРИСТИКИ СИСТЕМЫ

К рабочим характеристикам микроскопа с модуляционным контрастом относятся:
1) изображения с трехмерным внешним видом,
2) оптические сечения (секции)
3) направленная чувствительность к оптическим градиентам,
4) оптимальное изображение и
5) контраст и контроль когерентности.

Рисунок 1 представляет собой микрофотографию поверхности свежей человеческой эпителиальной клетки из выстилка рта, наблюдаемой через объектив Zeiss Neofluar 100x, модифицированный для модуляции контраста. При наблюдении в ярком поле этот прозрачный (фазовый) объект будет практически невидимым, потому что глаз или фотопленка не могут обнаружить фазовые вариации. Каждая бактерия выглядит как трехмерное изображение на сером фоне, где одна сторона темная, а противоположная сторона светлая с сероватым участком между ними. Когда интенсивность света изменяется выше и ниже среднего значения, говорят, что свет модулируется - отсюда и название «контраст модуляции».
Наша зрительная система интерпретирует эту форму оптического затенения как трехмерное изображение, которое подвержено иллюзии существования глубины в объекте. Некоторые наблюдатели могут рассматривать затенение как возвышенность (в образце), в то время как другие видят в нем впадину, или один наблюдатель может видеть его в любом направлении в разное время. Тем не менее, интенсивность изображения приближается к первой производной разности оптического пути прозрачного объекта или геометрического контура непрозрачного объекта (Hoffman & Gross, 1975a, 1976).
Изображения, создаваемые с помощью системы модулирующего контраста, не затеняются фазовым материалом выше и ниже плоскости фокуса. Каждый уровень глубины резкости четко обозначен, отражая объект только на этом уровне. Микрофотографии на рис.2, сделанные с помощью объектива Olympus 40x Planachromat свежей эпителиальной клетки с поверхности щеки человека показывают (а) складки мембраны и прилипшие бактерии на поверхности и (б) ядро клетки и цитоплазматические включения.
Модуляционно-контрастный микроскоп чувствителен к направлению оптических градиентов, при котором изображение оптически затеняется в направлении обнаружения максимального градиента. Эта направленность позволяет микроскописту определить направление градиента. На рис. 3 показан кристалл нитрата свинца, где оптический контур в центре кристалла едва виден по сравнению с рис. 3 (b), тот же кристалл повернут на 90 градусов.
Используется разрешающая способность любого объекта. Рисунок 4 демонстрирует разрешение пор Pleurosigma angulatum, полученное с помощью планахромата Zeiss 40x NA = 0,65. Изменение контраста и пространственной согласованности позволяет оптимально рассматривать объекты с широким диапазоном оптических градиентов. На рисунке 5 показана суспензия свежих эритроцитов человека, сравнивается правильная и неправильная настройка контраста и когерентности. На рис. 5 (б) контраст и когерентность были слишком высокими для этого объекта.

КОМПОНЕНТЫ СИСТЕМЫ

Светлопольный микроскоп легко модифицируется в систему модулирующего контраста путем добавления специальной щелевой апертуры для каждого конкретного объектива (с соответствующим увеличением) ниже конденсора и добавлением вращающегося поляризатора под щелевой апертурой. Модулятор помещается в объектив в плоскости, сопряженной со специальной щелевой апертурой (рис. 6, задняя фокальная плоскость объектива).
Модулятор имеет три области:
1) небольшую темную область (D) на одном краю с пропусканием менее 1% света
2) узкую серую область (G) приблизительно с 15% пропускания света и
3) остальную часть сопряженной плоскости (B) с 100% пропусканием света.

По существу, фазовые изменения, вносимые модулятором, отсутствуют. Специальная Щелевая апертура представляет собой частично щель, покрытую поляризатором P2 и отображающуюся на плоскость модулятора. При пересечении P1 и P2 эффективная щель становится узкой, и ее изображение регистрируется в серой области модулятора (G). Участок щели, управляемый поляризатором, регистрируется в яркой области модулятора (B). Вращение P1 изменяет контраст и пространственную когерентность. Щелевая апертура и серая область модулятора смещены от оптической оси, чтобы обеспечить максимальное разрешение. Когда щель удалена, объектив с модулирующим контрастом можно использовать для режимов светлого поля, темного поля, поляризации и флуоресценции. Система контрастирования с модуляцией пропускания может использоваться в сочетании с методами отраженной флуоресценции (Padnos, 1976).

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1


Последний раз редактировалось Алексей Лк 04 июн 2021, 21:33, всего редактировалось 1 раз.

Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:25 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 1. Модуляционно-контрастное изображение поверхности свежей эпителиальной клетки с внутренней поверхности щеки человека, показывающее трехмерный вид бактерий (B), мембранных складок (M), клеточных складок (C) и мелких частиц (P). Объектив- Zeiss Neofluar 100 x (NA = 1,3). Бар = 4 мкм


Вложения:
FE88E34F-4512-41DD-BA56-3A3E0AE0E045.jpeg
FE88E34F-4512-41DD-BA56-3A3E0AE0E045.jpeg [ 196.34 КБ | Просмотров: 10059 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:26 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 2. Характеристики разных оптических уровней, видимых в модуляционно-контрастном микроскопе. (а) Поверхность свежих клеток щечного эпителия человека с прилипшими бактериями (В) и складками мембраны (М). На (b) та же клетка на нижнем уровне, показывающая цитоплазматические гранулы (G), ядро (N) и мембранные складки по краю (M). Объектив - Olympus Planachromat 40 x (NA = 0,65). Бар = 8 мам


Вложения:
9FFF1202-99AA-434A-B784-D4D39B7BB21F.jpeg
9FFF1202-99AA-434A-B784-D4D39B7BB21F.jpeg [ 190.18 КБ | Просмотров: 10059 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:27 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 3. Свойство направленности кристалла нитрата свинца (a); (b) тот же кристалл повернут на 90 градусов, что выявляет оптические градиенты (og), проходящие через центр кристалла. Объектив - Nikon Achromat 40 x (NA = 0,65). Бар = 14 мкм.


Вложения:
A4F353F3-A203-4E02-BF0D-28C063D134CE.jpeg
A4F353F3-A203-4E02-BF0D-28C063D134CE.jpeg [ 165.73 КБ | Просмотров: 10057 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:28 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 4. Разрешающая способность модуляционно-контрастного микроскопа, показывающая поры (P) diatom pleurosigma под объективом Objective-Zeiss Planachromat 40 x (NA = 0,65). Бар = 6 мкм


Вложения:
4DDFB51A-1742-4315-8FF4-7E0A3DD949DE.jpeg
4DDFB51A-1742-4315-8FF4-7E0A3DD949DE.jpeg [ 176.47 КБ | Просмотров: 10051 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:29 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 5. Контроль эффекта светорассеяния показан на этих микрофотографиях свежей суспензии эритроцитов человека. (а) В оптимальном изображении поляризаторы не пересекаются; (б) чрезмерный контраст и поляризаторы с высокой когерентностью пересекаются, создавая «блики» и интерференционные полосы. Относительно плоские объекты с небольшими перепадами показателей преломления могут быть четко отображены с помощью скрещенных поляризаторов (рис. 1). Бар = 10 мкм. Объектив - Olympus Planachromat 40 x.


Вложения:
9EABE0A4-C329-4914-A441-AFE8DEFB606F.jpeg
9EABE0A4-C329-4914-A441-AFE8DEFB606F.jpeg [ 168.72 КБ | Просмотров: 10049 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:30 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 6. Схема, показывающая компоненты для преобразования микроскопа светлого поля в микроскоп с модуляционным контрастом. На левом плане сверху показаны области модулятора; темный (D), серый (G) и яркий (B). Правый план сверху показывает щель и изображение щели, правильно совмещенное и наложенное на модулятор. P1 и P2 - поляризаторы.


Вложения:
640F2F50-DE21-48EB-BE4C-01E6E8B8A927.jpeg
640F2F50-DE21-48EB-BE4C-01E6E8B8A927.jpeg [ 75.77 КБ | Просмотров: 10048 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 21:31 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
А все остальное - завтра

________________
Leitz Laborlux S
Olympus BX51

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1


Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 22:04 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 25 дек 2012, 20:13
Сообщения: 201
Откуда: Москва
Как интересно! Неужели можно на коленке сделать? Жду продолжения.

_________________
Володя

Мои макро: https://yadi.sk/d/EbhqwUac3ML3TQ


Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 04 июн 2021, 22:18 
Не в сети

Зарегистрирован: 03 сен 2012, 23:14
Сообщения: 2215
Откуда: Ростов
На коленке сложно)

_________________
Биолам Р11 с АПО и УФ объективами с СТ11, КФ-1 и КФ-4, Гамма 3D, АУ-26, Laboval 4 с Phv ахроматами, Peraval interphako, MB30 с ДИК и ФК KFZ (частично KFA и KFS), Биомед с набором ПЛАН ФК, Jenamed 2 с ФК


Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 05 июн 2021, 08:27 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Часть 2

ПРИНЦИПЫ РАБОТЫ СИСТЕМЫ

Модуляционно-контрастный микроскоп представляет собой простую систему, основанную на пяти принципах, которые проявляются, если рассматривать оптический градиент как небольшую «призму».
Первый принцип: призма отклоняет луч света. На рис. 7 (а) представлена типичная комбинация конденсора микроскопа и объектива. Щель расположена в передней фокальной плоскости конденсора, и ее изображение формируется в сопряженной плоскости - задней фокальной плоскости объектива. На рисунке 7 (b) показано отклонение светового луча 2, когда на его пути помещается небольшая призма.
Второй принцип: изображение щели 2 смещается световым лучом 2, проходящим через призму, тогда как световой луч 1, проходя вокруг призмы, формирует изображение щели, которое не смещается. Это отмечено двумя изображениями щелей на рис. 7 (б).
Третий принцип: смещенные изображения щелей пропускают свет через различные части модулятора. Когда специально разработанный фильтр - модулятор, размещается в задней фокальной плоскости объектива (рис. 7c), свет от смещенного щелевого изображения 2 проходит без ослабления через яркую область модулятора (В), в то время как свет несмещенного щелевого изображения 1 ослабляется до 15% от своего первоначального значения при прохождении через серую область (G).
Четвертый принцип: интенсивность изображения оптического градиента контролируется пропусканием той части модулятора, через которую проходят лучи градиента. После прохождения яркой области модулятора (В) свет формирует яркое изображение оптического градиента призмы в плоскости реального изображения, а свет, прошедший вокруг призмы, проходит через серую область (G), образуя серый фон в плоскости реального изображения. (Рис. 7c). Поэтому изображение с призматическим градиентом ярче фона и, следовательно, становится видимым. Противоположный градиент приводит к сильному ослаблению света в темной области (D). Это создает темное градиентное изображение. Если бы модулятор отсутствовал (рис. 7b), интенсивность смещенного и несмещенного щелевого изображения была бы одинаковой, когда они достигли плоскости реального изображения. Призма будет практически невидимой, потому что интенсивность градиента и фона будет одинаковой.
Пятый принцип: дифрагированные световые волны проходят через яркую область модулятора (В), интерферируя с реальной плоскостью изображения и формируя изображение с мелкими деталями и краями.

АНАЛИЗ ОБЪЕКТА

Объект можно описать по его способности изменять свет. Амплитудный объект поглощает свет, а фазовый - нет. Некоторые объекты поляризуют свет. Однако реальные объекты изменяют свет более чем одним способом, но преимущественно характеризуются все же одним. Наиболее распространенная форма фазового объекта - это форма непрерывно изменяющегося оптического пути или плотности. Объект, показанный на рис. 8, имеет показатель преломления N1 в среде с показателем преломления N2 и краями в точках A и B. Направление падающего света перпендикулярно плоскости AB, в то время как фронт плоской волны параллелен AB. Граница в точке 1 по существу параллельна падающей волне, тогда как границы в точках A и B перпендикулярны падающей волне. Область 4 имеет угол «призмы» больше, чем область 2, и противоположна области 4 ». На краях A и B дифракция наиболее сильна.
Угол отклонения связан с «призматическим» эффектом поверхности (границы) объекта. На рисунке 9 (а) показана «призма», образованная в точке касания к поверхности. На рисунке 9 (b) показано направление отклонения, когда N2 больше N1. На рисунке 9 (c) показано противоположное направление отклонения, когда N2 меньше N1. Угол отклонения Фи пропорционален углу касательной (альфа) и разнице показателей преломления (N1- N2), такой что
tan Фи = tan aльфа (N1- N2) и для малых углов Фи = aльфа (N1- N2) в радианах. Подводя итог «призматическому» эффекту оптических градиентных границ, на рис.10 показан идеальный объект с призмой на каждой стороне, соединенной плоской неградиентной областью, где направление отклонения зависит от относительного показателя преломления и геометрического угла aльфа. Когда показатель преломления среды (N2) больше, чем показатель преломления объекта, возникают противоположные направления 1 и 2 выходящего света. Когда нет градиента, нет отклонения, обозначенного цифрой 0.

ОПЕРАЦИИ С МОДУЛЯТОРОМ

Округлые объекты имеют постоянно изменяющиеся оптические градиенты. Каждый оптический градиент создает различный угол отклонения, в результате чего изображение щели находится в различном положении в задней фокальной плоскости объектива. Каждое изображение щели должно проходить через разные части модулятора. Многие изображения щели появляются одновременно; по одному для каждого градиента и по одному для каждой точки в окружении. Все изображения щелей для объемного изображения накладываются друг на друга и появляются как единое изображение щели, зарегистрированное в серой области. На рисунке 11 показана серия оптических градиентов (из рисунка 8), обозначенных как «призмы», смещающих изображение щели относительно модулятора. Интенсивность света перед модулятором одинакова для каждого оптического градиента, поскольку объект или его части не поглощают свет. Длина стрелок после модулятора указывает относительную интенсивность света для каждого градиента, который достигает плоскости изображения. Градиент c равен нулю и представляет плоские области объекта, а также лучи, выходящие за пределы объекта через окружение. Изображение щели регистрируется в серой области модулятора (G), который поглощает 85% света и пропускает 15% в плоскость изображения, чтобы создать серый фон и плоские области объекта. Градиент d сдвигает изображение щели таким образом, чтобы четверть его площади проходила через яркую область модулятора (В), который пропускает 100% света, в то время как три четверти области щелевого изображения все еще проходит через серый участок (G). Интенсивность после модулятора является суммой интенсивности каждой области щелевого изображения, т. е. области 1 и 2 на виде сверху. Интенсивность в плоскости изображения для градиента d больше, чем для градиента c. Интенсивность изображения противоположных градиентов меньше, чем значение фона.
Максимальное изменение интенсивности происходит, когда направление плоскости градиента параллельно длине серой области. Изображение щели всегда смещено в направлении нормали (перпендикулярно) направлению плоскости градиента. На рисунке 12 показано направление плоскости градиента и направление смещения изображения щели. На рис. 12 (а) относительная ориентация позволяет максимально детектировать оптический градиент. На рис. 12 (b) образец повернут на 90 градусов, что приводит к минимальному обнаружению градиента. Обратите внимание, на рис. 12 (b) смещенное изображение остается в серой области.

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1


Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 05 июн 2021, 08:37 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 7. Схематическая диаграмма комбинации конденсор-объектив, показывающая что лучи, параллельные оптической оси, формируют изображение щели на оптической оси (а). Отклоненный луч (2), покидающий оптический градиент (призму), формирует изображение щели, смещенное от оптической оси (b). На (c) изображения щелей проходят через различные части модулятора, чтобы сформировать яркое изображение оптического градиента на сером фоне. Длина стрелок указывает на относительную интенсивность. D = темный, G = серый, B = яркий.


Вложения:
D558D19D-D001-4460-AC5D-B097E9705299.jpeg
D558D19D-D001-4460-AC5D-B097E9705299.jpeg [ 76.09 КБ | Просмотров: 9966 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 05 июн 2021, 08:38 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 8. Схемы обычного прозрачного объекта, показывающие непрерывно изменяющиеся оптические градиенты, представленные в виде «призм».


Вложения:
534CC938-1F95-43BE-8B82-897D711770DD.jpeg
534CC938-1F95-43BE-8B82-897D711770DD.jpeg [ 32.77 КБ | Просмотров: 9966 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
СообщениеДобавлено: 05 июн 2021, 08:38 
Не в сети
Аватара пользователя

Зарегистрирован: 13 апр 2021, 20:58
Сообщения: 972
Откуда: Москва
Рис. 9. Схема закругленной стороны фазового объекта, показывающая угол (альфа) границы раздела фаз и угол (фи) отклонения относительно показателя преломления N.


Вложения:
0D215950-A948-4628-8775-158022F16D5B.jpeg
0D215950-A948-4628-8775-158022F16D5B.jpeg [ 42.46 КБ | Просмотров: 9966 ]

_________________
Leitz Laborlux S
Leitz Dialux
Leitz Labovert (два)
Campden Instruments HA752
Slide PFM medical 2003
Leica SM2000R
3D Gamma
объективы Zeiss Epiplan-Neofluar 5x,10x,20x,50х,100x (резьба М27)
объективы интерференционные МИО-1
Вернуться к началу
 Профиль  
 
Показать сообщения за:  Поле сортировки  
Начать новую тему Ответить на тему  [ Сообщений: 90 ]  На страницу 1, 2, 3, 4, 5, 6  След.

Часовой пояс: UTC + 3 часа


Кто сейчас на конференции

Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и гости: 76


Вы не можете начинать темы
Вы не можете отвечать на сообщения
Вы не можете редактировать свои сообщения
Вы не можете удалять свои сообщения
Вы не можете добавлять вложения

Найти:
Перейти:  
Создано на основе phpBB® Forum Software © phpBB Group
Русская поддержка phpBB
Яндекс.Метрика